九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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晶錠方阻電阻率測試儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地蘇州市

更新時(shí)間:2025-01-16 13:15:02瀏覽次數(shù):348次

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晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。

專注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開發(fā)和生產(chǎn) ,攻克被國外卡脖子技術(shù)。

產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、科研以及平板材料測試領(lǐng)域。借助公司*計(jì)量分析測試技術(shù),為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。

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一、

晶圓電阻率測試儀

硅片方阻測試儀

渦流法低電阻率分析儀

晶錠電阻率分析儀

樣品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品;

遷移率測量范圍:100-20000cm2/v.sec)

方塊電阻測量范圍:100-3000ohm/sq);

載流子面密度測量范圍:1E11-1E14cm-2);

電磁鐵磁場強(qiáng)度:1.0T

探頭線圈直徑:15mm



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