表面光電壓JPV\SPV 返回列表頁

表面光電壓法的基本原理：

表面光電壓法（Surface Photovoltage Method，簡稱SPV法）是通過測量由于光照在半導體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來獲得少數(shù)載流子擴散長度的方法。其原理是：用能量大于半導體材料禁帶寬度的單色光照射在半導體材料表面，在其內部產(chǎn)生電子-空穴對，受濃度梯度驅動擴散至半導體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場分離，形成光生電壓，即表面光電壓JPV\SPV。

表面光電壓法的應用和優(yōu)勢：

SPV法是表征半導體材料少子擴散長度的主要方法，具有以下優(yōu)點：

是一種穩(wěn)態(tài)方法，與時間無關，避免了體內和表面復合對測試結果的影響。

一般情況下，表面復合過程不影響少子擴散長度的測試結果，表面復合速率只對表面光電壓信號強度產(chǎn)生影響，因此無須特殊處理材料的表面。

表面光電壓JPV\SPV是一種無接觸的測試方法，測試成本低、易于操作、不容易受到干擾，并且可以實施面掃描（mapping）。