TEM-STM樣品桿系列 參考價:面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術(shù)的創(chuàng)新性原位透射電鏡(TEM)測量工具,為納米科學(xué)研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價:面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)