臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM18系列臺(tái)式掃描電鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系...
半自動(dòng)臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列半自動(dòng)臺(tái)階儀作為國(guó)產(chǎn)高精度表面測(cè)量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場(chǎng)景及可靠的測(cè)量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了...
低溫液氮探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
低溫液氮探針臺(tái)是一種先進(jìn)的科研設(shè)備，專門用于在低溫環(huán)境下對(duì)半導(dǎo)體器件、微納材料以及電子元件進(jìn)行高精度的電學(xué)性能測(cè)試。它通過(guò)液氮制冷系統(tǒng)為樣品提供超低溫環(huán)境，確保...
原位加熱/電學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿，基于MEMS原位芯片技術(shù)，通過(guò)更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。
原位力學(xué)樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術(shù)，集成力測(cè)量功能，對(duì)樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過(guò)程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線，支持力-電同時(shí)測(cè)量。
原位多場(chǎng)耦合樣品桿 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過(guò)更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
加熱拉伸臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
納米力學(xué)臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺(tái)是動(dòng)態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。
納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
SEM納米探針臺(tái)由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設(shè)備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領(lǐng)域。這款探針臺(tái)不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點(diǎn)，...
原位加熱臺(tái) 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺(tái)基于MEMS加熱芯片技術(shù)，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
4