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NI-100-納米力學(xué)臺
  • NI-100-納米力學(xué)臺
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貨物所在地:廣東東莞市

地: 東莞

更新時間:2024-11-16 21:00:07

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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學(xué)臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學(xué)行為的重要工具。

PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米力學(xué) 集成了壓電驅(qū)動四軸樣品臺及定量力學(xué)壓頭,樣品及壓頭兩側(cè)同時控溫,是開展材料納米力學(xué)行為研究的重要工具。


<strong><strong><strong>納米力學(xué)臺</strong></strong></strong>-1.jpeg

技術(shù)指標(biāo)


力加載指標(biāo)加熱控溫
1. 載荷大?。?-100mN;1. 溫度范圍:室溫至400℃(更高溫度可選);
2. 位移范圍:100μm;2. 控溫精度:±1℃;
樣品臺移動指標(biāo)
3. 控溫方式:兩端同時控溫;
1. XYZ三軸或XYZT四軸;4. 軟件控制;
2. X軸移動行程:±10mm;
3. Y軸移動行程:±10mm;

4. Z軸移動行程:±10mm;

5. 軟件控制;


產(chǎn)品選型


納米力學(xué)臺  同時可拓展低溫附件。

澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI、JEOL、ZEISS、Tescan及ZEPTOOLS等多種掃描電子顯微鏡型號的納米力學(xué),支持定制。







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