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貨物所在地：北京北京市
所在地： 北京
更新時間：2024-05-05 21:00:06
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位拉伸樣品桿 基于高精度壓電拉伸操控，最小步長小于100nm，適用雙噴或離子減薄樣品，是研究金屬材料、納米材料、薄膜材料力學行為的重要工具。
技術(shù)指標
| 拉伸指標 |
| 1.拉伸位移量：0-2mm； |
| 2.拉伸速率：0.2um--50um/s； |
| 3.拉伸步長：優(yōu)于100nm； |
| 4.控制方式：搖桿控制或軟件控制； |
| 5.軟件功能：拉伸/壓縮模式、拉伸條件預(yù)設(shè)。 |
產(chǎn)品選型
原位拉伸樣品桿
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號原位拉伸樣品桿。
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