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貨物所在地:北京北京市
所在地: 北京
更新時間:2024-11-16 21:00:07
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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位多場耦合樣品桿 是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),借助該系統(tǒng),研究人員可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括光、電、力、熱等),從而對材料或者器件等不同類型樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
具備多種耦合方式:力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱
技術(shù)指標(biāo)
電學(xué)測量 | 加熱控溫 |
1.包含一個電流電壓測試單元; | 1.溫度范圍:室溫至1000℃; |
2.電流測量范圍:1nA-30mA; | 2.溫度準(zhǔn)確度:優(yōu)于5%; |
3.電流分辨率:100fA; | 3.控溫穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1℃; |
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; | 4..軟件控制,數(shù)據(jù)自動保存。 |
5.軟件自動測量:I-V、I-t |
透射電子顯微鏡內(nèi)不同溫度下的原位充放電研究
In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures
doi: 10.1002/smll.202001899
力學(xué)操縱 | 光纖指標(biāo) |
1.探針粗細調(diào)方式:全軟件操控; | 1.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選; |
2.粗調(diào)范圍:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm; | 2.光纖快拆接口:SMA、FC等; |
3.細調(diào)范圍:XY方向18um,Z方向1.5um; | 3.可外接光源; |
4.4.細調(diào)分辨率:XY方向0.4nm,Z方向0.04nm; | 4.可外接光譜儀; |
產(chǎn)品選型
原位多場耦合樣品桿 具有單傾、雙傾(JEOL)兩個版本;
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿,支持定制。
國內(nèi)部分用戶
典型案例
1、加熱芯片+電學(xué)探針------->透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實驗;
2、加熱芯片+力學(xué)探針------->透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實驗;
3、電學(xué)芯片+電學(xué)探針------->透射電鏡內(nèi)的三端器件測量實驗;
4、電學(xué)芯片+光纖單元------->透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究;
5、電學(xué)芯片+光纖單元------->透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究。
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