菲希爾X射線鍍層測厚儀，菲希爾熒光射線測厚儀，XDV-SDD設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅(qū)動的Z軸升降臺。

菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量，雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 （兩層的厚度和合金成分都能被測量）；

貴金屬鍍層厚度測量，F(xiàn)ischerscope X-ray。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。

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Fischer X射線測厚儀，微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產(chǎn)生高計數(shù)率信號，以此造就了高精度的測量。

菲希爾X射線測厚儀Fischer，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設(shè)計的入門級、耐用型測...

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