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HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī) 參考價(jià):面議
ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全...HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備 參考價(jià):面議
目前,對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對(duì)于在以往的TLP測(cè)試機(jī)無法完成的高電壓?大電流的特性測(cè)試,在TLP傳輸線脈沖測(cè)試儀上得以實(shí)現(xiàn)、并有...HANWA HED-C5000R CDM測(cè)試設(shè)備 參考價(jià):面議
CDM測(cè)試儀,CDM測(cè)試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測(cè)試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測(cè)試設(shè)備全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備 參考價(jià):8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備近年來,自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù),解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于...HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
芯片ESD測(cè)試設(shè)備,HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng),ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的...ESD測(cè)試機(jī) 參考價(jià):面議
芯片ESD測(cè)試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測(cè)試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是...HANWA ESD測(cè)試全部設(shè)備簡(jiǎn)介 參考價(jià):面議
ESD測(cè)試設(shè)備,芯片ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HE...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)