首頁(yè)>>南京芯測(cè)軟件技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>失效分析設(shè)備>>封裝工藝檢測(cè)設(shè)備
ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡 參考價(jià)：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看"理念的升級(jí)設(shè)計(jì)。
掃描電鏡 參考價(jià)：面議
掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進(jìn)分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)緊密地結(jié)合在一起。
半導(dǎo)體場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
GeminiSEM 560 引進(jìn)了 Gemini 3 型鏡筒，創(chuàng)下了表面成像技術(shù)新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動(dòng)光路調(diào)節(jié)引擎是為方便您...
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體光學(xué)/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
德國(guó)進(jìn)口晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)：面議
德國(guó)進(jìn)口晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。
芯片封裝焊接強(qiáng)度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
芯片封裝焊接強(qiáng)度測(cè)試儀憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累，我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測(cè)試解決方案、材料電性能測(cè)試設(shè)備、微波射頻器件測(cè)量等測(cè)試技術(shù)服務(wù)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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