參考價(jià)	面議

透射電子顯微鏡（TEM）

冷凍透射電鏡

FEI/賽默飛

價(jià)格區(qū)間	面議	儀器種類	熱場(chǎng)發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工

300KV透射電鏡Spectra 300 TEM
高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-<0.03eV

詳細(xì)介紹

300KV透射電鏡Spectra 300 TEM

適用于所有材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡

Spectra 300 (S)TEM的主要特點(diǎn)

Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率電子源

Current Time 0:00/Duration 2:18Loaded: 7.20%
還可配置超高亮度X-CFEG光源提供最高分辨率的STEM成像性能

Panther STEM探頭系統(tǒng)具有的靈敏度

先進(jìn)的STEM成像能力

Spectra 300 (S)TEM靈活的能譜配置

Current Time 0:00/Duration 0:12Loaded: 99.73% Current Time 0:00/Duration 0:10Loaded: 100.00%

Current Time 0:00/Duration 0:30Loaded: 33.17%

Spectra 300 (S)TEM的原位功能

Spectra 300 (S)TEM的規(guī)格

圖像矯正器	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM 分辨率：136 pm
探針矯正器：	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM 分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
未校正	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM分辨率：136 pm
X-FEG/單色器雙校正（探針+圖像矯正器）	能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）
X-CFEG 雙校正（探針+圖像校正）	能量散布：0.4 eV 信息限制：70 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 136 pm）
離子源	X-FEG Mono：高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射槍和單色器，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1-<0.2 eV X-FEG UltiMono：高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-<0.03eV X-CFEG：固有能量分辨率<0.4 eV 的超高亮度 30 – 300 kV 的靈活高張力范圍



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