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目錄:賽默飛電子顯微鏡>>透射電子顯微鏡(TEM)>> 最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM

最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
  • 最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-08-28 13:54:01瀏覽次數(shù):731評價

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價格區(qū)間 面議 儀器種類 熱場發(fā)射
應用領域 環(huán)保,化工
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié),同時保持高潔凈度。

最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM

最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡

Talos F200X G2 透射電子顯微鏡功能

可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié),同時保持高潔凈度。

更多空間

為動態(tài)實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高度可重復的數(shù)據(jù)采集

所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進行的,確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現(xiàn)的方式重復進行,從而使您能夠?qū)W⒂谘芯慷莾x器操作。

更好的圖像數(shù)據(jù)

高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測,可為高質(zhì)量圖像提供更高的對比度。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS

通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)極準確的定量。  

提高了生產(chǎn)率

超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡,可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。

性能數(shù)據(jù)

HRTEM 線分辨率
  • ≤0.10 nm

STEM 分辨率
  • ≤0.16 nm (X-FEG)

  • ≤0.14 nm ,100 pA (X-CFEG)

Super-X EDS 系統(tǒng)
  • 4 SDD 對稱設計、無窗、遮光板保護

電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率
  • ≤0.8 eV (X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG

200 kV 下的槍亮度  
  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)



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