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當前位置：上海麥科威半導體技術有限公司>>微納測試儀器>> SKP5050掃描開爾文探針
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置，用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV業(yè)界分辨率的測試系統。
主要特點：
功函分辨率<3meV
掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）
掃描分辨率：317.5nm
自動高度調節(jié)
掃描開爾文探針應用領域：
有機和非有機半導體
金屬
薄膜
太陽能電池和有機光伏材料
腐蝕
升級附件：
大氣光子發(fā)射系統
表面光電壓(QTH or LED)
SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱
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