美國HindsInstruments研發(fā)基于PEM光彈調(diào)制原理的Exicor高精度應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)、MicroImager應(yīng)力測(cè)量顯微鏡、穆勒矩陣測(cè)量儀、偏振測(cè)量儀、各向異性測(cè)量儀、消光比測(cè)量儀、PEM光彈調(diào)制器、鎖相放大等。
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