化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備>四探針測(cè)試儀>SMD600 離子污染測(cè)試儀600SMD探頭
1化學(xué)鎳自動(dòng)加藥系統(tǒng),酸性蝕刻添加系統(tǒng),鍍金自動(dòng)添加系統(tǒng),禾威WALCHEM WCU/WNI/WEC/WPH 控制器,倒置式金相顯微鏡;金相消耗品;手提式涂層測(cè)厚儀;長(zhǎng)臂板厚測(cè)量?jī)x;熒光金屬鍍層測(cè)厚儀;測(cè)厚儀/標(biāo)準(zhǔn)片;磨拋機(jī);研磨/拋光兩用機(jī);金相切割機(jī);環(huán)氧乙烷滅菌箱;比重-密度天平;電子分析天平;鍍鎳自動(dòng)添加系統(tǒng);X射線測(cè)厚儀;鍍銅蝕銅自動(dòng)添加控制器;導(dǎo)電率自動(dòng)添加控制器;凝膠化時(shí)間測(cè)試儀;水質(zhì)測(cè)試包;銅箔抗剝離強(qiáng)度測(cè)試儀;
離子污染測(cè)試儀,別名:離子污染度測(cè)試儀 污染度測(cè)試儀 線路板污染度測(cè)量?jī)x 或錯(cuò)寫為:粒子污染測(cè)試儀 原為美國(guó)OMEGA
離子污染測(cè)試儀600 SMD,現(xiàn)已被美國(guó)儀器*SCS收購(gòu)為旗下的一支產(chǎn)品。離子污染測(cè)試儀600SMD探頭
離子污染測(cè)試儀屬服務(wù)于印制線路板行業(yè)及相關(guān)產(chǎn)業(yè)的精密檢測(cè)儀器,可對(duì)清洗、涂敷等工藝前后光板進(jìn)行離子污染測(cè)試; 拓展應(yīng)用到對(duì)元器件生產(chǎn)工藝中某一階段的制品進(jìn)行測(cè)試或?qū)ρb配清洗前后的電路板做離子污染測(cè)試;有利于進(jìn)一步提高電子產(chǎn)品壽命、可靠性、控制環(huán)境污染。
離子污染測(cè)試儀600SMD探頭由于該產(chǎn)品使用時(shí)間長(zhǎng),在長(zhǎng)時(shí)間使用中部分消耗品的老化,而導(dǎo)致無法正常工作,請(qǐng)深圳瑞思遠(yuǎn)科技有限公司長(zhǎng)期供應(yīng)Omegameter 600SMD離子污染測(cè)試儀各種配件
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肖