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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> Prisma E sem掃描電子顯微鏡

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Prisma E sem掃描電子顯微鏡

參考價2000000-2500000
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌FEI/賽默飛
  • 型號
  • 所在地上海市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/8/28 12:54:50
  • 訪問次數(shù) 913

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FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

產地類別 進口 價格區(qū)間 200萬-250萬
儀器種類 冷場發(fā)射 應用領域 化工
  Thermo Scientific™ Prisma™ E Prisma E sem掃描電子顯微鏡是支持一體化ColorSEM技術進行直觀元素分析的鎢燈絲掃描電子顯微鏡。Prisma 配置環(huán)境真空模式,并可靈活配置,多種配件選項能夠滿足各種需求。
 
  學術和工業(yè)研究實驗室需要利用現(xiàn)代化SEM從廣泛的樣品中獲得大量數(shù)據(jù),并獲得出色的圖像質量。同時,由于多數(shù)實驗室均為多人操作或管理設備,SEM要簡便易用,才能確保不同經驗程度的用戶都能輕松訪問所有數(shù)據(jù)。Thermo ScientificTM PrismaTM E SEM可滿足以上所有要求。
 
  Prisma E SEM 繼承了原FEI公司成熟的Quanta SEM技術,并將系統(tǒng)易用性、性能和靈活性提升到新的高度。其樣品倉可容納大樣品和更多探測器選項,全新樣品臺及樣品托一次可加載多達18個樣品,利用圖像導航功能,可快速查找并定位樣品。
 
  用戶界面提供多種新穎功能,如Undo(撤銷)/Redo(重做)等,提高工作效率,并使新手用戶更快上手。用戶界面可定制化設置,可保留慣用的設置,以滿足專家用戶和新手用戶的不同需求。ESEM的原位和環(huán)境功能可以在任意真空條件下對任意樣品實現(xiàn)高質量成像,同時,多種原位實驗臺通過軟件集成到系統(tǒng)中,能夠在現(xiàn)在現(xiàn)實條件下對樣品進行原位研究。
 
  Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術,該技術將傳統(tǒng)的SE或者BSE成像技術與實時元素分析結合,利用先進算法,即時在SEM圖像上添加色彩代表化學成分,結合形狀,幫助用戶快速進行材料識別。ColorSEM技術可提供關鍵的樣品信息,從而實現(xiàn)更完整的材料表征。
 


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