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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡/TEM)> 300KV透射電鏡Spectra 300 TEM

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300KV透射電鏡Spectra 300 TEM

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2024/8/28 13:39:24
  • 訪問次數(shù) 1074
產(chǎn)品標(biāo)簽

TEM透射電鏡Spectra 300 TEM300KV

聯(lián)系方式：張怡玲查看聯(lián)系方式

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原FEI公司，2016年被賽默飛世爾科技收購，成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析（MSD) 電鏡事業(yè)部，是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM，透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM，結(jié)合先進的軟件套件，運用廣泛的樣本類型，通過將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合，使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡，雙束電鏡，透射電子顯微鏡，冷凍電鏡，X射線光電子能譜儀，三維可視化軟件

價格區(qū)間 面議 儀器種類 熱場發(fā)射
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

300KV透射電鏡Spectra 300 TEM

適用于所有材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡

Spectra 300  (S)TEM的主要特點

Spectra 300 (S)TEM可配置高能量分辨率電子源




Current Time 0:00/Duration 2:18Loaded: 7.20%
還可配置超高亮度X-CFEG光源 提供最高分辨率的STEM成像性能




Panther STEM探頭系統(tǒng)具有的靈敏度



先進的STEM成像能力





Spectra 300 (S)TEM靈活的能譜配置




Current Time 0:00/Duration 0:12Loaded: 99.73% Current Time 0:00/Duration 0:10Loaded: 100.00%





Current Time 0:00/Duration 0:30Loaded: 33.17%


Spectra 300 (S)TEM的原位功能


Spectra 300 (S)TEM的規(guī)格

圖像矯正器

  • 能量散布：0.2–0.3 eV

  • 信息限制：60 pm

  • STEM 分辨率：136 pm

探針矯正器：

  • 能量散布：0.2–0.3 eV

  • 信息限制：100 pm

  • STEM 分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）

未校正

  • 能量散布：0.2–0.3 eV

  • 信息限制：100 pm

  • STEM分辨率：136 pm

X-FEG/單色器雙校正（探針+圖像矯正器）

  • 能量散布：0.2–0.3 eV

  • 信息限制：60 pm

  • STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm）

X-CFEG 雙校正（探針+圖像校正）

  • 能量散布：0.4 eV

  • 信息限制：70 pm

  • STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 136 pm）

離子源

  • X-FEG Mono：高亮度肖特基場發(fā)射槍和單色器，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1-<0.2 eV

  • X-FEG UltiMono：高亮度肖特基場發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-<0.03eV

  • X-CFEG：固有能量分辨率<0.4 eV 的超高亮度

  • 30 – 300 kV 的靈活高張力范圍





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