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200 kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM
- 公司名稱(chēng) 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:49:43
- 訪問(wèn)次數(shù) 867
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 熱場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
200 kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM
用于高通量、高分辨率化學(xué)表征和動(dòng)態(tài)觀察的 TEM 和 STEM 分析
主要特點(diǎn)
可搭配眾多高分辨率場(chǎng)發(fā)射槍 (FEG)
選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場(chǎng)發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合。
可搭配雙 EDS 技術(shù)
從單個(gè) 30 mm2 檢測(cè)器到用于高通量（或低劑量）分析的雙 100 mm2 檢測(cè)器中，選擇您需求的 EDS 檢測(cè)器。
高質(zhì)量 STEM/TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS
創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶(hù)界面非常簡(jiǎn)單，從而輕松獲得高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)最準(zhǔn)確的定量。
的原位功能
添加斷層掃描或原位樣品架?？焖贁z像機(jī)、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實(shí)現(xiàn) 3D 成像和原位采集。
200 kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM提高了生產(chǎn)率
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡，可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶(hù)環(huán)境的快速輕松切換。
可重復(fù)性最高的數(shù)據(jù)
所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動(dòng)進(jìn)行的，確保您始終從最佳成像條件開(kāi)始工作。實(shí)驗(yàn)可重現(xiàn)，使您可以專(zhuān)注于研究，而不是工具。
高速提供大視野成像
4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個(gè)高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)字縮放。
緊湊型設(shè)計(jì)
更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰(zhàn)性的空間中使用此工具，同時(shí)降低基礎(chǔ)設(shè)施和支持成本。
| TEM |
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| 操作 系統(tǒng)XX 單元 |
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| 真空系統(tǒng) |
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| STEM 成像 |
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| 能量色散 X 射線光譜 (EDS) |
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| 電子能量損失光譜 (EELS) |
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| 槍亮度 200 kV |
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