PSM-LN2 液氮高低溫探針臺(tái)

Avantgarde 液氮高低溫探針臺(tái)在科學(xué)研究和技術(shù)開發(fā)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它能夠在低溫環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行各種非破壞性的物理性能和電學(xué)性能測(cè)試，幫助研究人員深入了解材料或者器件的各種物理性能和電學(xué)性能，從而為新材料的研發(fā)和應(yīng)用提供重要的數(shù)據(jù)支持。

PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺(tái)能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80K-800K高低溫真空測(cè)試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測(cè)量?jī)x器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電測(cè)試。

特點(diǎn)

• 液氮高低溫真空探針臺(tái)，15分鐘內(nèi)腔體真空度可達(dá)到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到溫度只需0.2L液氮，使用方便快捷同時(shí)兼顧經(jīng)濟(jì)性。

• 探針臂的位移調(diào)節(jié)在真空腔外操作，可以在不破壞真空 的情況下，切換樣品上的不同器件進(jìn)行測(cè)試。

• 的探針臂 X-Y-Z-R四維調(diào)節(jié)，能滿足4英寸樣品的測(cè)試。

• 真空腔材質(zhì)為鋁制材料，能夠有效減小外界的電磁干擾，提高測(cè)試的精準(zhǔn)度和穩(wěn)定性

• 探針臂采用三同軸接頭，漏電性能好，實(shí)測(cè)漏電流小于100fA @1V@80K--800K

• 測(cè)試溫度范圍寬，支持80K-800K連續(xù)變溫。

• 設(shè)計(jì)的柔性探針，將探針安裝到銅制彈片上，避免扎針過程中力量過大導(dǎo)致樣品或電極損壞

• 上蓋采用翻蓋結(jié)構(gòu)，換樣更便捷。