岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

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  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測
    2024/12/18 13:38:331440

  • UltraFilm薄膜測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜測量同質(zhì)膜厚全自動檢測
    2024/11/26 17:16:591686

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結(jié)合，可以在高達 ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:271987

  • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    專為測量旋轉(zhuǎn)對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:531104

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場的高速、中精度、經(jīng)濟實惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點和線傳感器），為在線過程測量和控制而設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    輪廓儀表面測量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:001557

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結(jié)合，可以在高達 ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    應(yīng)力測量光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:491047

  • iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI
    2024/11/9 15:34:221798

  • 光學(xué)粗糙度測試儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WM 300
    光學(xué)粗糙度測試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進行耗時粗糙度計算。利用角分辨光散射...
    型號： WM 300 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    WM 300光學(xué)粗糙度測試儀Optosurf
    2024/11/9 14:35:192212

  • 晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：PLS-F1000
    晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機使用高精度高速光譜共焦雙探頭對射傳感器實現(xiàn)晶圓的非接觸式測量，結(jié)合高精度運動模組及晶圓機械手可實現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級精度的測量，...
    型號： PLS-F1000 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    PLS-F1000形貌測量參數(shù)自動檢測機
    2024/11/9 14:30:533682

  • 微波等離子清洗機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：P03Q-6LS Plasma
    微波等離子清洗機專為微電子表面清潔與改性設(shè)計，用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力，倒裝芯片填充不足等封裝制程，可用于處理各種電子材料，包括塑料、金屬或者玻璃等。
    型號： P03Q-6LS ... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    微波等離子清洗微波等離子清洗機
    2024/11/26 17:10:303229

  • 微流控缺陷檢測 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個面，或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場，暗場，正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    微流控缺陷檢測
    2024/11/9 14:22:118289

  • 晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運行多個掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費力。而且，隨...
    型號： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測
    2024/11/9 14:14:143905

  • 硅片厚度測量 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
    型號： Filmetric... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    硅片厚度測量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀膜厚儀
    2025/1/16 10:05:373220

  • StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    StrainScope Flex可調(diào)式實時應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:59:552747

  • 實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    實時型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:57:422744

  • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶廣，用戶包括肖特、卡爾...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:56:052322

  • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測量儀可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:22:523961

  • Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:50:163237

  • Filmetrics F60高級光譜反射系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點，并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo)，矩形或線性地圖...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:48:262254

  • Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達45...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:46:332589

  • Filmetrics F54薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/26 17:19:074015

  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:43:012597

  • F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    F2-RT 光譜反射和透射測量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時測量反射率和透射率的儀器。
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀折射率測量儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:41:002529

  • Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動評估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 13:39:162660
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