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目錄:孚光精儀(中國(guó))有限公司>>光學(xué)測(cè)量系列>>晶圓測(cè)試儀器>> FPMDC-C-VC-V/I-V特性測(cè)試儀

C-V/I-V特性測(cè)試儀
  • C-V/I-V特性測(cè)試儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) FPMDC-C-V
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2024-07-16 13:41:40瀏覽次數(shù):435評(píng)價(jià)

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C-V/I-V特性測(cè)試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測(cè)試和I-V特性測(cè)試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測(cè)試系統(tǒng)。

C-V/I-V特性測(cè)試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測(cè)試和I-V特性測(cè)試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測(cè)試系統(tǒng)。
C-V/I-V特性測(cè)試儀具有較高的C-V測(cè)試精度,提供流線型C-V曲線和偏置溫度壓力程序,方便用戶使用,點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可測(cè)量C-V曲線,顯示所有C-V曲線繪圖和測(cè)試結(jié)果。密碼保護(hù)功能允許使用人員預(yù)設(shè)所有C-V測(cè)試結(jié)果和壓力測(cè)試周期。測(cè)試結(jié)果可保存起來用于后來分析。
C-V/I-V特性測(cè)試儀
C-V/I-V特性測(cè)試儀功能

提供Swept,Retrace或Pulsed模式,可以檢測(cè)C-V/I-V特性測(cè)試儀在不同情況下的性能。
Swept模式:測(cè)試襯底的摻雜,平帶電壓,閾值電壓,流動(dòng)離子濃度等。*“閃光"和“穩(wěn)定"功能可達(dá)到平衡反轉(zhuǎn)電容。
電導(dǎo)率測(cè)量:測(cè)量電導(dǎo)率和電容測(cè)量真實(shí)的器件電容值和耗盡區(qū)電導(dǎo)。
摻雜曲線:可把C-V曲線數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成“摻雜曲線",這種摻雜曲線非常適合低摻雜離子注入監(jiān)測(cè)。
C-V/I-V特性測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)
PN結(jié)摻雜分布:范圍1x10^13離子/cm^3到1x10^18離子/cm^3,深度0.01微米~100微米。
                          深度和摻雜范圍由零偏壓耗盡寬度,擊穿電壓和儀器電壓范圍決定。
                          典型值:1x10^15離子/cm^3,深度:1~17微米
                                        1x10^16離子/cm^3,深度:0.33~2.5微米
                          精度:典型+/-2%
MOS摻雜分布:范圍2x10^14離子/cm^3到5x10^17離子/cm^3,深度0.01微米~10微米。
                          深度和摻雜范圍由擊穿電壓,氧化層擊穿和儀器電壓范圍決定。
                          典型值:1x10^15離子/cm^3,深度:0.01~5微米
                                        1x10^16離子/cm^3,深度:0.01~2微米
                          精度:典型+/-5%
植入劑量計(jì)算:  范圍5x10^10離子/cm^2到5x10^12離子/cm^2,
                          精度:典型+/-8%
壽命:                范圍0.1微秒~0.1秒
                          典型值:100~1000微秒
                          精度:典型+/-8%
平帶電壓偏移:  范圍:0.005V~50V
                          典型值:0.05V~0.2V
                          精度:+/-2%
流動(dòng)離子電荷濃度:范圍1x10^10離子/cm^2到1x10^13離子/cm^2
                          典型值:2x10^10離子/cm^2/eV
                          精度:典型+/-2%,+/-1x10^10離子/cm^2
界面陷阱密度:范圍2x10^9離子/cm^2/eV到1x10^12離子/cm^2/eV
                          典型值:3x10^10離子/cm^2
                          精度:典型+/-7%,+/-3x10^9離子/cm^2/eV
C-V特性              范圍:+/-100V,+/-10fA ~+/-1mA
                          精度:+/-1%
結(jié)二極管參數(shù):  范圍:Rs0.1~1000歐姆,Is:1x10^-3 ~ 1x 10^-8安培, n:1.0~2.0
                          典型值:Rs 2歐姆, Is 1x10^-11安培, n:1.2
                          精度:+/-5%
氧化物擊穿場(chǎng)     范圍:0~20MV/cm
                          典型值:8MV/cm
                          精度:+/-5%.


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