光纖連接器端面測試干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖連接器端面測試干涉儀FiBO®200是經(jīng)濟(jì)型的光纖接頭端面分析測量儀器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計(jì)量和自動(dòng)缺陷檢測功能?？稍谏a(chǎn)現(xiàn)場或現(xiàn)場快速...
光纖色散測試儀 參考價(jià)：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設(shè)計(jì)的色散測量系統(tǒng),具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測。
光纖光譜衰減測量儀 參考價(jià)：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設(shè)計(jì)的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術(shù)測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動(dòng)態(tài)范圍允許測試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
模場直徑有效面積測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
模場直徑有效面積測量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設(shè)計(jì)的MFD和Aeff測試儀器。
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器 參考價(jià)：面議
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用堅(jiān)固外殼封裝和全光纖制造,具有較低損耗,無準(zhǔn)直光學(xué)元件...
單點(diǎn)少子壽命測量儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
光學(xué)鍍膜檢測儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量薄膜反射光譜進(jìn)測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領(lǐng)域的薄膜測量而開的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ堋Ｗ詣?dòng)spectroscop...
薄膜粘附力熱學(xué)測試儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜粘附力熱學(xué)測試儀是為薄膜厚度測量,薄膜粘附力測量和薄膜熱導(dǎo)率測量設(shè)計(jì)的薄膜特性分析測試儀器。采用光聲顯微鏡和異步光學(xué)采樣ASOPS技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度薄膜力學(xué)...
激光全息應(yīng)力場分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
二維平面形變應(yīng)力測量系統(tǒng)采用良好的激光全息相機(jī)技術(shù)測量表面形變3D矢量場和二維應(yīng)力分布,是良好的激光全息應(yīng)變應(yīng)力測試系統(tǒng),具有超高靈敏度。它是以非接觸式測量方式...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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