首頁>>孚光精儀（中國）有限公司>>產品展示>>光學測量系列
激光多普勒測振儀 參考價：面議
激光多普勒測振儀是為非接觸式振動測量設計的激光測振儀器,可非接觸式測量任何表面的振動,采用激光束準直對準待測振動平面,遠測量距離高達5米,不需要任何光學和機械調...
高分辨率掃描電子顯微鏡 參考價：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用。
晶圓芯片裝卸操作臺 參考價：面議
晶圓裝卸操作臺是專業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運,晶圓取放等晶圓操作操縱設計的晶圓裝卸定位臺系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺和360度旋轉臺集成而成。
光纖連接器端面測試干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面測試干涉儀FiBO®200是經濟型的光纖接頭端面分析測量儀器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測功能。可在生產現(xiàn)場或現(xiàn)場快速...
光纖連接器端面檢測儀,光纖接頭端面干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面檢測儀FiBO®250是光纖接頭端面干涉儀是對,可提供高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測結合。
光纖端面幾何測量儀,相移干涉儀 參考價：面議
光纖端面幾何測量儀FiBO®300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對裸光纖和非標準光纖連接器的光纖端面幾何結構測量分析?？勺児?..
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設計的色散測量系統(tǒng),具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產檢測。
光纖光譜衰減測量儀 參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態(tài)范圍允許測試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
模場直徑有效面積測量系統(tǒng) 參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設計的MFD和Aeff測試儀器。
可調光纖法布里-珀羅濾波器 參考價：面議
可調光纖法布里-珀羅濾波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用堅固外殼封裝和全光纖制造,具有較低損耗,無準直光學元件...
KPFM-SKPM開爾文探針力顯微鏡 參考價：面議
這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品...
單點開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量。
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統(tǒng)都配有高質量的手動或電動轉換器，可實現(xiàn)可靠和準確的針尖到樣品定位，跟蹤...
開爾文探針系統(tǒng),Kelvin Probe 參考價：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉移和功函數變化中起著重要作用。
超高真空超低溫四探針SPM顯微鏡 參考價：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內應用設計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產品可用于納米技術
高壓濺射PVD物理氣相沉積系統(tǒng) 參考價：550000
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設計,PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價：1200000
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實驗室到工廠"的方法設計的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動，也適用于中試生產。
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
四探針電阻率電導率計 參考價：面議
這款四探針電阻率電導率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導率,適合多種材料和樣品測量。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設計的工業(yè)級自動四點探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標準，提供快速、準確和可靠的晶圓樣品...
晶圓厚度變化測量儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達10nm，可以在幾秒鐘內適應不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測量儀 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
玻璃翹曲度測量儀 參考價：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
9