這款真空變溫探針臺是專業(yè)變溫真空晶圓流測試設(shè)計的專業(yè)變溫真空探針臺,滿足晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍達到液氮溫度 -180℃~600℃,特別適合高溫和極低溫環(huán)境下晶圓真空變溫測試和射頻測試。
真空變溫探針臺特點
測試溫度：-180℃~600℃
適合高功率器件測試20kV DC/200A
即使在真空狀態(tài)下，也可以使用外部操作型定位器（探頭）移動致動器
良好的光和電屏蔽效果
MJ-8型探針臺可用于霍爾效應(yīng)測量

真空變溫探針臺應(yīng)用
Low level IV (fA)和Low level CV (fF)
高功率器件探針測試：20KV DC/200A
RF射頻測試
高功率器件測試20kV DC/200A
高溫和極低溫晶圓溫度特性測試
氣體環(huán)境測試
真空變溫探針臺可選配件
冷熱臺 -180℃~+600°C
各種光源
三目顯微鏡（標配體視顯微鏡）
CCD相機
Probe card (4.5 inch square PCB)
真空變溫探針臺可連接配合的測試儀器
設(shè)備分析儀/參數(shù)分析儀
功率器件分析儀
源度量單位
曲線跟蹤器
精密LCR儀表
數(shù)字萬用表
阻抗分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析器
真空變溫探針臺規(guī)格參數(shù)