電化學(xué)掃描探針顯微鏡是基于掃描電化學(xué)顯微鏡技術(shù)的電化學(xué)探針掃描儀,用于各種電化學(xué)活性表面的研究。它屬于像AFM、STM或SECM這樣的掃描顯微鏡。
電化學(xué)掃描探針顯微鏡由三個(gè)主要單元組成，一個(gè)定位系統(tǒng)、一個(gè)雙穩(wěn)態(tài)/恒流器和一個(gè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。定位系統(tǒng)在溶液下的電化學(xué)活性表面上三維移動(dòng)超微電極。通過(guò)這種方式，電化學(xué)掃描探針顯微鏡可以用作普通的SECM掃描電化學(xué)顯微鏡使用，但它遠(yuǎn)不止于此。主要區(qū)別在于在jian端應(yīng)用任何電化學(xué)方法（自由可編程脈沖協(xié)議），而不僅僅是記錄jian端電流。在協(xié)議期間，可以將獨(dú)立的方法應(yīng)用于樣本，并與應(yīng)用于jian端的方法同時(shí)運(yùn)行,也可用于活性電化學(xué)表面改性。
電化學(xué)掃描探針顯微鏡設(shè)計(jì)用于廣泛的應(yīng)用，如各種表面分析、金屬沉積、導(dǎo)電聚合物沉積、酶活性成像和催化中心等。
工作模式
掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）
掃描電化學(xué)細(xì)胞顯微鏡（SECCM）
掃描微毛細(xì)管接觸法（SMCM)

電化學(xué)掃描探針顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域
納米化學(xué)
環(huán)境科學(xué)
電化學(xué)過(guò)程分析
能源轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)
腐蝕過(guò)程分析和保護(hù)
神經(jīng)化學(xué)成像
電生理研究/單細(xì)胞成像

電化學(xué)掃描探針顯微鏡特點(diǎn)
直流伺服電機(jī)與壓電轉(zhuǎn)換器相結(jié)合的高精度定位系統(tǒng)
用于精細(xì)高度控制的閉環(huán)控制壓電
時(shí)間、位置和電化學(xué)參數(shù)通過(guò)實(shí)時(shí)速度和位置控制器以樶佳方式同步。
基于編碼器的實(shí)時(shí)位置控制
掃描面積大
全軟件控制的雙極穩(wěn)壓器/恒流器，用于控制和記錄jian端和樣品的電位和電流
jian端和樣品的電流和電勢(shì)范圍非常寬。
使用免費(fèi)可編程電化學(xué)方法進(jìn)行矩陣掃描
可編程自由波形發(fā)生器
催化材料的實(shí)際OCP測(cè)量
溫度控制下有機(jī)和水溶液的表面研究
微米/納米級(jí)的金屬沉積（電鍍和化學(xué)沉積）
導(dǎo)電聚合物在有機(jī)或水性溶劑中的表面局部沉積