目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>表面微納測量>>表面形貌儀>> FPNAN-NV進(jìn)口3D光學(xué)輪廓儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
3D光學(xué)輪廓儀是具有白光干涉和相移干涉技術(shù)的表面形貌儀,具有高掃描速度,垂直分辨率高達(dá)亞納米0.1nm,從而具有三維臺階儀功能。
3D光學(xué)輪廓儀NV系列具有探針jian端/傾斜功能，能夠測量甚至高度傾斜的表面。可以虛擬測量任何表面，并立即顯示生動的3D圖像，如紋理,粗糙度,透明的樣品等等。
3D光學(xué)輪廓儀特點
白光掃描干涉技術(shù)-非接觸、無損、快速測量
觸針儀器不能測量小于觸針jian端直徑的微凹凸。白光干涉測量法可以測量微幾何形狀的表面粗糙度由于微小的光斑尺寸而具有相當(dāng)高的分辨率。
移相干涉技術(shù)
相移干涉測量法是一種成熟的技術(shù)用于依賴于在受控相移期間獲取的干擾數(shù)據(jù)，大多數(shù)通常由受控的機械振蕩引起干擾物鏡,它提供具有典型高度測量的完整3D圖像,重復(fù)精度高達(dá)1nm。
區(qū)域掃描強度測量方法
與掃描視場中每個點的方法不同，WSI具有通過測量來減少測量時間的*點區(qū)域掃描
輪廓儀的粗糙度測量功能
高可追溯性和重復(fù)精度
通過美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院認(rèn)證的超大規(guī)模集成電路步長標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。實現(xiàn)ji高的精度和作為高度測量系統(tǒng)的可重復(fù)精度。
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