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貨物所在地：上海上海市
所在地： 輔光儀器代理進(jìn)口品牌
更新時(shí)間：2025-02-16 21:26:37
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高靈敏度薄膜測(cè)厚儀是美國(guó)進(jìn)口的超薄薄膜和涂層厚度測(cè)量?jī)x器，高靈敏度薄膜測(cè)厚儀具有超薄薄膜厚度繪制和涂層厚度繪圖功能。
高靈敏度薄膜測(cè)厚儀特色
使用革命性的紅外反射吸收光譜技術(shù)，
能夠測(cè)量低至單層薄膜的厚度，
它的測(cè)量斑點(diǎn)小可到3x28mm，
非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測(cè)量繪制。
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高靈敏度薄膜測(cè)厚儀特色
使用革命性的紅外反射吸收光譜技術(shù)，
能夠測(cè)量低至單層薄膜的厚度，
它的測(cè)量斑點(diǎn)小可到3x28mm，
非常適合整個(gè)表面的薄膜厚度測(cè)量繪制。
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