詳細(xì)摘要： 借助F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x：F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多...

詳細(xì)摘要： 借助F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚...

詳細(xì)摘要： 主動(dòng)式防震系統(tǒng)主動(dòng)式防振系統(tǒng)（ AVI）能夠?yàn)榭蒲小⒐こ毯蜕a(chǎn)過(guò)程所需要的精密儀器提供一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)量環(huán)境。。。。

詳細(xì)摘要： 桌上型主動(dòng)式隔振臺(tái)特點(diǎn)：*TS 的隔震性能在0.7-100Hz 范圍提供6自由度3軸的主動(dòng)隔震。*自動(dòng)高度調(diào)節(jié)讓儀器擺放隨心所欲.*水平自動(dòng)調(diào)節(jié)功能即使負(fù)載重心...

詳細(xì)摘要： 桌上型主動(dòng)式減震臺(tái)*空間6自由度主動(dòng)減振-擁有全頻段的抗振動(dòng)效果，同時(shí)沒有共振*LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計(jì)-封閉式鋁制機(jī)身與臺(tái)面...

詳細(xì)摘要： 主動(dòng)式減震系統(tǒng)*空間6自由度主動(dòng)減振-擁有全頻段的抗振動(dòng)效果，同時(shí)沒有共振*LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示*潔凈室兼容設(shè)計(jì)-封閉式鋁制機(jī)身與臺(tái)面，避...

詳細(xì)摘要： UNICORN α500 系列低頻消磁系統(tǒng)（ EMI Canceling System，又稱消磁器），DC 與 AC 雙模式主動(dòng)消磁器，采用高精度純直流測(cè)量/反...

詳細(xì)摘要： 一些靈敏度很高的儀器可能是一個(gè)自然諧振頻率的被動(dòng)系統(tǒng)，可以用主動(dòng)隔振系統(tǒng)消除共振。 KURASHIKI 通過(guò)在發(fā)展主動(dòng)防震系統(tǒng)的同時(shí)補(bǔ)充了被動(dòng)系統(tǒng)，主動(dòng)防震系統(tǒng)...

詳細(xì)摘要： mini 桌上型主動(dòng)式隔振臺(tái)新設(shè)計(jì)，易使用

詳細(xì)摘要： Lumina AT2薄膜缺陷檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。在...

詳細(xì)摘要： Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。在...

詳細(xì)摘要： Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x：F3-sX系列膜厚測(cè)量?jī)x利用光譜反射原理，可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面...

詳細(xì)摘要： Filmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息，咨詢。

詳細(xì)摘要： HORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀是新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R54四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測(cè)繪系統(tǒng)，從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜...

詳細(xì)摘要： Filmetrics R50四探針電阻率測(cè)量?jī)x系列提供接觸式四點(diǎn)探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測(cè)量。

詳細(xì)摘要： -Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x-F54系列的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)4...

詳細(xì)摘要： Film Sense FS-1™多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可靠地薄膜測(cè)量...

詳細(xì)摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡，可以提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和Tr...