Filmetrics薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM ...
Filmetrics 單點光學膜厚測量儀 參考價：面議
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，...
Filmetrics 光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價：面議
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，...
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，...
KLA光學輪廓儀 參考價：面議
KLA光學輪廓儀KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA 探針式臺階儀，KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價：面議
KLA 白光共聚焦顯微鏡，KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結(jié)構(gòu)進行成像分析，從光滑...
Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡 參考價：面議
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA 納米壓痕儀，KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等...
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