德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司
中級會(huì)員 | 第9年

18721247059

  • 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)

    在硅片等基板上附膜時(shí)，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力，進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測量裝置FLX系列可從這...

    型號： Toho FLX-... 所在地：國外參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/6/6 13:05:03 對比
    薄膜測試薄膜應(yīng)力日本薄膜應(yīng)力薄膜應(yīng)力測試薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng)
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