新品上市

蔡司雙束電鏡

Crossbeam 550 Samplefab

蔡司推出全新雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備開發(fā)的

聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)

Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性

自動(dòng)化功能和用戶友好設(shè)計(jì)

幫助半導(dǎo)體行業(yè)的樣品制備更加簡便高效

全新界面

用戶友好的軟件操作體驗(yàn)

配備直觀的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)圖形用戶界面

軟件功能模塊高度整合，輕松上手

無論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗(yàn)

全新體驗(yàn)

全自動(dòng)TEM樣品制備流程

蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

提供了全自動(dòng)解決方案

實(shí)現(xiàn)無人值守的多點(diǎn)位TEM薄片制備

旨在優(yōu)化工作流程，一位操作員即可控制多臺設(shè)備

提高生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量