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  • 藍寶石厚度TTV測試儀

    非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進行強度調(diào)制,在材料中產(chǎn)生熱波,光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播,這一...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/4/30 15:07:16 對比
    厚度藍寶石晶圓TTV非接觸
  • 非接觸硅片厚度TTV測試儀

    非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對激勵光源進行強度調(diào)制,在材料中產(chǎn)生熱波,光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播,這一...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/4/30 14:07:09 對比
    非接觸厚度TTV硅片晶圓
  • 晶圓厚度TTV測試儀

    在半導體制造領(lǐng)域,晶圓的厚度測量是至關(guān)重要的一環(huán),它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測量的需求,我們研發(fā)了一款對射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測量設(shè)...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/4/14 15:22:49 對比
    晶圓厚度TTV半導體硅片
  • 金剛石厚度TTV測試儀

    金剛石膜檢測與測試報告 檢測項目 金剛石膜的檢測項目主要包括以下幾個方面:膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/4/14 15:17:12 對比
    厚度金剛石硅片TTV晶圓半導體
  • 硅片厚度TTV測試儀

    硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學測量技術(shù),如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中,反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計算硅片厚...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/4/14 15:08:41 對比
    硅片TTV厚度非接觸晶圓半導體
  • 硅片電阻率測試儀

    硅片電阻率測試儀:電阻率(resistivity)是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式R=ρl/S,其中ρ就是電阻率,l為材料的長度,...

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2025/2/18 11:29:34 對比
    硅片電阻率渦流法方阻半導體

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