九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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霍爾遷移率測(cè)試儀
  • 霍爾遷移率測(cè)試儀
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更新時(shí)間:2024-10-14 10:21:21

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可用于半導(dǎo)體組件性能表征,包括:遷移率,電阻率,載流子濃度和霍爾常數(shù)

“碳化硅的電子遷移率是900,碳化硅MOSFET的溝道遷移率是50,體遷移率是1000" 看到這樣的介紹,或許你非常疑惑,為什么同一種材料中有這么多的遷移率?我們?cè)诼犞v座或者看相關(guān)文獻(xiàn)的時(shí)候,也經(jīng)常會(huì)遇到不同的遷移率:霍爾遷移率,漂移遷移率,溝道遷移率,體遷移率等等。這里,就讓我來為大家具體分析一下這些不同的遷移率。大體上來說,遷移率的概念可以分為三種:1. 最基礎(chǔ)的遷移率定義(microscopic mobility); 2. 體材料里的遷移率(根據(jù)不同的測(cè)試方法得出不同的遷移率名稱); 3. 晶體管中的遷移率。

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