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渦流法方阻測(cè)試儀
  • 渦流法方阻測(cè)試儀
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貨物所在地：江蘇蘇州市

更新時(shí)間：2024-10-14 10:21:21

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這款非接觸式方塊電阻測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。
：在一長(zhǎng)為l，寬w，高d（即為膜厚），此時(shí)L=l,S=w*d,故R=ρ*l/(w*d)=(ρ/d)*(l/w).令l=w于是R=(ρ/d)，這就是方阻。　
圖一
蒸發(fā)鋁膜、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料，衡量它們厚度的方法就是測(cè)試它們的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻，指一個(gè)正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊“之"間的電阻，如圖一所示，即B邊到C邊的電阻值。方塊電阻有一個(gè)特性，即任意大小的正方形邊到邊的電阻都是一樣的，不管邊長(zhǎng)是1米還是0.1米，它們的方阻都是一樣，這樣方阻僅與導(dǎo)電膜的厚度等因素有關(guān)，

     方阻測(cè)試的方法有很多種，四探針、渦流法、外用表等等測(cè)試方法。渦流法優(yōu)勢(shì)在于非接觸式，無(wú)損檢測(cè)。

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