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非接觸電阻率方阻測試儀
  • 非接觸電阻率方阻測試儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2024-10-17 10:46:10

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設(shè)備主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導(dǎo)體材料,石墨烯,透明導(dǎo)電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。
可實現(xiàn)單點測試,亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質(zhì)量控制

人們通常將材料分為導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體三個大類。金屬材料是良好的導(dǎo)體材料,在電力方面,鋁及鋁合金和銅及銅合金材料是金屬材料中使用比較廣泛的導(dǎo)電材料,導(dǎo)電性能是這些材料關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)。衡量材料的導(dǎo)電性能的常見電性能參數(shù)有:電阻率、電阻、電導(dǎo)、電導(dǎo)率、導(dǎo)電率以及電阻溫度系數(shù)、電阻率溫度系數(shù)等。我公司新研發(fā)渦流法電阻率測試儀,非接觸式測試,不損傷晶圓表面,方面快捷。

渦流法主要用于非接觸式,可測量1E-3(1m)至1E + 4(10k)Ω/□電阻范圍。

它可用于半導(dǎo)體,化合物半導(dǎo)體,液晶和新型碳基材料等廣泛領(lǐng)域的測量。

渦流測量系統(tǒng)使用電磁感應(yīng)產(chǎn)生的渦流來測量電阻。

非接觸式測量探頭單元的探頭芯(磁性材料)在兩側(cè)(上下)以一定的間隙排列

可以更好地測試硅片、碳化硅、氮化鎵、氧化鎵等材料




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