原位加熱臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。
納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發(fā)，是一款具有高性能的科研設備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優(yōu)點，...
納米力學臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學臺是動態(tài)觀察和分析納米材料力學行為的重要工具。
加熱拉伸臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
多樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個標準TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損。
原位MEMS 加熱/電學樣品桿系列 參考價：面議
原位MEMS加熱/電學樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學及電子器件研究領域?qū)υ粍討B(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基...
TEM-STM樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創(chuàng)新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產(chǎn)品將掃描探針控制單元...
三維重構樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉(zhuǎn)和360度旋轉(zhuǎn)測試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足材料科學、生命科學等領域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標準外形的透射電鏡...
原位多場耦合樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現(xiàn)光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內(nèi)集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現(xiàn)透射電鏡內(nèi)的光電測量或光譜學表征研究...
原位力學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。
臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價：面議
ZEM系列電鏡能譜一體機兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
原位電學測量樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統(tǒng)源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產(chǎn)品迭代及功能拓展，已推出電...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該...
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