首頁(yè) >> 公司動(dòng)態(tài) >> 聚焦半導(dǎo)體失效分析：同“芯”協(xié)力云上課堂第三講
國(guó)務(wù)院副總理劉鶴更是強(qiáng)調(diào)：發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)必須發(fā)揮新型舉國(guó)體制優(yōu)勢(shì)，用好政府和市場(chǎng)兩方面力量。
為了能跟更好的助力半導(dǎo)體企業(yè)提高良率，電子顯微鏡檢測(cè)分析是半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域的顯微分析的重要手段。賽默飛將于2023年3月23日舉辦同“芯”協(xié)力云上課堂，與半導(dǎo)體業(yè)內(nèi)人士一起來(lái)一場(chǎng)電鏡技術(shù)相關(guān)的線上面對(duì)面的探討交流。
簡(jiǎn)單/高效/智能
——聚焦半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備方法
及失效分析應(yīng)用
本報(bào)告以電鏡分析作為基石，從物性失效分析的基本流程和前沿應(yīng)用出發(fā)，重點(diǎn)介紹 電鏡在邏輯電路、存儲(chǔ)器件、芯片封裝、顯示面板、第三代半導(dǎo)體等領(lǐng)域的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)。
掃描透射電鏡
—— 貫穿半導(dǎo)體工業(yè)“設(shè)計(jì)研發(fā)”—“過(guò)程控制”—“失效分析”的全能專(zhuān)家
本次報(bào)告將結(jié)合半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用案例詳細(xì)介紹常用于，如化合物半導(dǎo)體、邏輯電路、存儲(chǔ)器件、顯示器件等，各類(lèi)半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)表征、成分分析和失效分析等TEM表征技術(shù)，以及目前先進(jìn)TEM技術(shù)及中高端掃描透射電子顯微鏡在半導(dǎo)體工業(yè)設(shè)計(jì)及研發(fā)方面的應(yīng)用。
會(huì)議時(shí)間
2023年3月23日14:00-15:30
參與方式
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