產(chǎn)品推薦:氣相|液相|光譜|質譜|電化學|元素分析|水分測定儀|樣品前處理|試驗機|培養(yǎng)箱


化工儀器網(wǎng)>技術中心>專業(yè)論文>正文

歡迎聯(lián)系我

有什么可以幫您? 在線咨詢

MEMS器件光刻--厚膠工藝

來源:托托科技(蘇州)有限公司   2024年11月15日 11:13  

MEMS器件光刻--厚膠工藝

隨著科學技術的不斷推進,器件逐步朝著小型化,集成化發(fā)展。將大規(guī)模的電路、傳感器、執(zhí)行器等集成在一片或多片芯片上,使傳統(tǒng)機電系統(tǒng)微縮至微米甚至納米尺度,這種微系統(tǒng)被稱為MEMS,即微機電系統(tǒng)(Micro-Electro-Mechanical System)。MEMS已經(jīng)在消費電子產(chǎn)品、航空航天設備及生物醫(yī)學等領域中得到了廣泛的應用。

 

img1 

圖片來源:網(wǎng)絡

 

生物醫(yī)學領域的發(fā)展依托于MEMS技術,能夠將大型的實驗室系統(tǒng)微縮于一個小型的基板上,從而實現(xiàn)更快速,更便捷的功能。其中,微流控技術是生物芯片的基石,能夠實現(xiàn)在微米尺度上操控流體運動、溶液反應等。這種小型化的發(fā)展,使得生物醫(yī)療行業(yè)中對樣品的采集需求量和試劑消耗量大幅減少,同時,也能夠適應更多復雜的環(huán)境。

 

一、       MEMS制造工藝

 

MEMS制造工藝主要來自于半導體和微電子工藝,以光刻、外延、刻蝕等為基礎制作出不同結構功能的三維器件。

 

其中光刻工藝是加工制造微納圖形與結構的關鍵工藝之一,利用光與光敏性材料發(fā)生反應,實現(xiàn)抗蝕涂層的圖案化,再結合不同的刻蝕方式得到不同結構的微電子器件。

 

光刻方式主要分為: 

厚膠工藝 

二、       光刻膠

 

光刻膠一般分為正膠和負膠,其中正膠受光分解,具有高分辨率,但粘附性和抗腐蝕性差。負膠受光交聯(lián),分辨率相對較差,但具有高粘附力且耐腐蝕,常用于MEMS器件的制備中。

 

MEMS結構具有高深寬比的特點,因此在光刻中通常使用負性厚膠進行制備。目前常用的負性厚膠多為美國MicroChem的SU-8系列光刻膠,單次旋涂的膠厚甚至可以達到數(shù)百微米,曝光顯影后的圖形邊緣也近乎垂直,深寬比可達10:1。

 

三、       厚膠工藝的一般光刻流程

1.       預處理:主要包括對光刻膠和襯底的處理。SU-8通常低溫儲存,在勻膠前需使其回溫至室溫。硅襯底通常進行RCA清洗,石英、玻璃襯底使用SPM清洗,清洗后的襯底用氮氣吹干后放置于熱板上,100-160 ℃熱烘5-10 分鐘,以此增加襯底與光刻膠的粘附性(或使用HMDS對襯底進行增附處理)。

 

2.       旋涂:旋涂分為兩個階段,低轉速階段使光刻膠均勻攤開,高轉速階段使膠層達到目標厚度。對于厚膠工藝,旋涂后的襯底邊緣位置因表面張力而聚集多余光刻膠,影響旋涂的均勻性,可使用棉簽蘸取丙酮擦去邊緣厚膠。

 

3.       前烘:前烘的目的主要是為了使光刻膠中的溶劑揮發(fā),一般使用熱板進行加熱,前烘不充分時,會影響光刻膠側壁的垂直度,也可能會產(chǎn)生漂膠的現(xiàn)象。

 

4.       曝光:尋找合適的曝光劑量對樣品進行曝光

 

5.       后烘:曝光結束后,對樣品再次進行烘烤,使曝光區(qū)域進一步發(fā)生交聯(lián)反應,宏觀上可觀察到光刻圖案。另外,可以降低駐波效應對膠層側壁的影響。

 

6.顯影:SU-8顯影采用PGMEA(丙二醇甲醚醋酸酯)和IPA(異丙醇)交替浸泡的方式。若制備的結構具有較大的深寬比,可利用倒置超聲顯影的方式進行。

 

7.       堅膜:溫度通常在150-250 ℃,時間在5-30 分鐘范圍內(nèi)。堅膜可以提高光刻膠與襯底之間的粘附性,提高穩(wěn)固性,使膠層有更高的抗刻蝕和抗離子注入的能力,同時可以消除光刻過程中產(chǎn)生的內(nèi)應力,消除膠表面的裂紋。

img3 

img4 

托托科技一家快速成長的技術驅動型企業(yè),專注于光學顯微加工及光學顯微檢測的光學儀器設備制造。其無掩膜版紫外光刻機通過數(shù)字化方式,將圖案加載于DMD(數(shù)字微鏡器件)上,再投影至光刻膠上進行微納器件的加工。通過這種方式可實現(xiàn)厚膠工藝中單層光刻以及雙層套刻的工藝,為微納器件的結構設計提供更多的可能性。


參考文獻:

[1]Altpeter D.Description of SU-8[J], 2005.

[2]張立國,陳迪,楊帆等. SU-8膠光刻工藝研究[J],2002,10(3):266-270.

[3] Teh W H, Dürig U, Drechsler U, et al. Effect of low numerical-aperture femtosecond two-photon absorption on (SU-8) resist for ultrahigh-aspect-ratio microstereolithography[J]. Journal of applied physics, 2005, 97(5): 054907.

免責聲明

  • 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的,應在授權范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
  • 本網(wǎng)轉載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
  • 如涉及作品內(nèi)容、版權等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關權利。
企業(yè)未開通此功能
詳詢客服 : 0571-87858618