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CRD高反射率測(cè)量?jī)x

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,專業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;
激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;
                         集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等
                         顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)控時(shí)間、FLIM、高精度脈沖延時(shí)器等。
                         值得一提的是,近年來(lái)公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測(cè)量?jī)x,CRD光腔衰蕩法高反測(cè)量?jī)x,偏心曲率測(cè)量?jī)x等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,汽車(chē),電氣,綜合

針對(duì)高反射率(R>99.7%)的光學(xué)樣品,德國(guó) IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率測(cè)量它通過(guò)對(duì)指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號(hào)的檢測(cè),去掉了傳統(tǒng)檢測(cè)方法中激光能量起伏所引起的誤差, 大大提高了測(cè)量精度。

CRD高反射率測(cè)量?jī)x測(cè)量原理:

當(dāng)一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi),忽略衍射及散射損耗,單色脈沖光在兩個(gè)腔鏡之間往返振蕩,每經(jīng)過(guò)一次循環(huán)透射出部分光,探測(cè)器通過(guò)接收光脈沖信號(hào)得到其以單指數(shù)形式衰減。

1. CRD系統(tǒng)介紹

CRD高反射率測(cè)量?jī)x

德國(guó)IPHT CRD高反射率測(cè)量?jī)x系統(tǒng)包含:

1. 激光光源
2. 光學(xué)零部件
3. A/D轉(zhuǎn)換器
4. 探測(cè)系統(tǒng)

系統(tǒng)要求

詳細(xì)說(shuō)明

激光器波長(zhǎng)范圍

400nm-1064nm內(nèi)常見(jiàn)激光波長(zhǎng)

激光器工作模式

脈沖

測(cè)量角度范圍

標(biāo)準(zhǔn)0°;45°選配

反射率測(cè)量范圍

99.9%-99.995%

測(cè)量精度

反射率精度取決于待測(cè)樣品反射率,精度為(1-R)*10%

樣品類型

平平/平凹鏡(凹面的曲率半徑≥500mm),平面拋光,凹面鍍高反,反射率R在99.9%...99.995%范圍內(nèi)

樣品尺寸要求

標(biāo)準(zhǔn)即1英寸;半英寸/50mm可選(直徑要求可根據(jù)客戶需求定制)

標(biāo)準(zhǔn)厚度:1/4英寸(5-7mm可選)


應(yīng)用:

準(zhǔn)確檢測(cè)高反射率激光腔鏡的反射率,尤其對(duì)于反射率大于99.9%的腔鏡測(cè)量具有更好的效果。



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