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目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>光學(xué)測(cè)量系列>>光學(xué)薄膜測(cè)量>> FPFRE-MDPspot單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀

單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) FPFRE-MDPspot
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

應(yīng)用領(lǐng)域:醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子

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更新時(shí)間:2024-09-11 11:22:15瀏覽次數(shù):720評(píng)價(jià)

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單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量儀器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。

單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量儀器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀可測(cè)量小于156mm厚度的晶錠,沒有自動(dòng)化配置,手工操作。可增配電阻率測(cè)試功能,適合硅,晶圓片和晶錠壽命測(cè)量。

單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀特點(diǎn)
無接觸和非破壞的電學(xué)參數(shù)測(cè)試
對(duì)外延工藝監(jiān)控和不可見缺陷檢測(cè),具有可視化測(cè)試的最高分辨率
對(duì)于不同級(jí)別晶圓片,提供不同的菜單選項(xiàng)
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀優(yōu)勢(shì)
用于不同制備階段,從成體到最終器件,多晶硅或單晶硅單點(diǎn)測(cè)量載流子壽命的臺(tái)式裝置。
體積小,成本低,使用方便。擁有一個(gè)基本的軟件,結(jié)果可視化。
適用于晶圓片到晶錠,易于高度調(diào)整。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量儀技術(shù)參數(shù)


樣品不同工藝處理樣品,如鈍化或擴(kuò)散后的單晶或多晶硅晶圓、晶錠、電池等
樣品尺寸50 x 50 mm2 到12“ 或210 x 210 mm2
電阻率0.2 - 103 Ohm cm
材質(zhì)硅晶圓,晶錠,部分或全部加工晶圓,化合物半導(dǎo)體和其它類型
少子壽命檢測(cè)范圍20ns到幾十ms
尺寸360 x 360 x 520 mm,質(zhì)量:16 kg
電源110/220 V, 50/60 Hz, 3 A





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