光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k。
這套光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)膜厚儀基于白光反射光譜技術(shù)，膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜，也是干涉型號(hào)被嵌入的光譜儀收集分析，結(jié)合多次反射原理，給出膜層的厚度和光學(xué)常數(shù)（n，k).
光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x到貨即可使用，僅僅需要用戶準(zhǔn)備一臺(tái)計(jì)算機(jī)提供USB接口即可，操作非常方便。

光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)膜厚儀特點(diǎn)
易于安裝
軟件基于Windows系統(tǒng)，方便使用
**光學(xué)設(shè)計(jì)，良*系統(tǒng)表現(xiàn)
陣列光譜探測(cè)器保證快速測(cè)量
測(cè)量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層
可測(cè)量反射，透射和吸收光譜
可用于實(shí)時(shí)在線的薄膜厚度和折射率測(cè)量
具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫(kù)
可升級(jí)到顯微分光光度計(jì)
適合不同襯底和不同薄膜厚度測(cè)量
寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：250-1700nm
光點(diǎn)大小：500um - 5mm
樣品大?。?00x200mm 或200mm 直徑
襯底厚度： 高達(dá)50um
測(cè)量薄膜厚度范圍： 2nm -150um
測(cè)量時(shí)間：***小2ms
精度：0.5%
重復(fù)精度：<1A
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,光學(xué)膜厚儀應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
液晶顯示屏測(cè)量
刑偵
生物膜測(cè)量
礦石地質(zhì)分析
制藥醫(yī)學(xué)分析
光學(xué)鍍膜測(cè)量
功能薄膜MEMS測(cè)量
太陽(yáng)能電池薄膜測(cè)量