光學(xué)鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率和絕對鏡面反射率–非常適合薄膜設(shè)計(jì)的反向分析,有效波長范圍為185nm至5200nm，有六種配置。
光學(xué)鍍膜檢測儀特點(diǎn)
在單個(gè)儀器中記錄寬波長范圍配置：185-5200 nm
與市場上的其他工具相比，測量速度快10倍以上
改變?nèi)肷浣呛鬅o需重新校準(zhǔn)基線
測量基片上同一區(qū)域的透射率和絕對鏡面反射率–非常適合薄膜設(shè)計(jì)的反向分析
*****的測量通道頭代表了此類***復(fù)雜和***有能力的機(jī)制，可用于表征不同AOI、極化下的涂層，光束偏差和光束位移范圍大，可達(dá)+/-60,0 mm
復(fù)雜的單元件和膠合棱鏡的wan全無人值守測量：分束器、鳩棱鏡、直角棱鏡、五棱鏡和半五棱鏡、菱形棱鏡、屋頂棱鏡、施密特棱鏡、佩肯棱鏡。棱鏡可以安裝或卸載。
可測量極限入射角
改變?nèi)肷涔恻c(diǎn)大小
測量UV紫外光學(xué)薄膜

可選光譜范圍：185-1700nm, 185-3500nm,  185-5200nm,  380-1700nm, 380-3500nm,  380-5200nm
單色儀（攝譜儀）: Czerny-Turner
波長采樣間隔：0.1-100nm
波長掃碼速度：3000nm/min @5nm采樣步長