上海富瞻環(huán)保科技有限公司
初級會員 | 第8年

18930218592

  • X射線鍍層測厚儀

    X射線鍍層測厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)2...

    型號： M1 ORA 所在地：上海市參考價： 面議更新時間：2023/5/19 17:33:22 對比
    X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
  • 鍍層測厚儀

    鍍層測厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）-92號（鈾）中的元素。分...

    型號： M1 MISTRA... 所在地：上海市參考價： 面議更新時間：2023/5/19 13:30:51 對比
    X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
  • 反射膜厚儀

    反射膜厚儀當一束光入射到薄膜表面時，薄膜上表面和下表面的反射光會發(fā)生干涉，干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學常數(shù)等有關，反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。

    型號： MProbe系列 所在地：上海市參考價： 面議更新時間：2023/5/19 13:16:00 對比
    干涉光測厚儀反射膜測厚儀白光測厚儀光學薄膜測厚儀測厚儀
  • POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測厚儀

    美國DEFELSKO POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測厚儀是直接測量，無需校準即可滿足大部分應用的超聲波涂層測厚儀。

    型號： 美國DEFELSK... 所在地：上海市參考價： 面議更新時間：2021/11/19 11:24:02 對比
    美國DEFELSKO超聲波涂層測厚儀涂層檢測儀微波涂層測厚儀美國涂層測厚儀
123共3頁,44條記錄 跳轉(zhuǎn)

會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復您~
撥打電話
在線留言