• X射線鍍層測(cè)厚儀

    X射線鍍層測(cè)厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測(cè)厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。M1 ORA能準(zhǔn)確測(cè)定珠寶類(lèi)合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)2...

    型號(hào)： M1 ORA 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/19 17:33:22 對(duì)比
    X射線熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
  • 鍍層測(cè)厚儀

    鍍層測(cè)厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素。分...

    型號(hào)： M1 MISTRA... 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/19 13:30:51 對(duì)比
    X射線熒光測(cè)厚儀鍍層測(cè)厚儀布魯克測(cè)厚儀進(jìn)口鍍層測(cè)厚儀光學(xué)測(cè)厚儀
  • 反射膜厚儀

    反射膜厚儀當(dāng)一束光入射到薄膜表面時(shí)，薄膜上表面和下表面的反射光會(huì)發(fā)生干涉，干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)等有關(guān)，反射光譜薄膜測(cè)厚儀就是基于此原理來(lái)測(cè)量薄膜厚度。

    型號(hào)： MProbe系列 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2023/5/19 13:16:00 對(duì)比
    干涉光測(cè)厚儀反射膜測(cè)厚儀白光測(cè)厚儀光學(xué)薄膜測(cè)厚儀測(cè)厚儀
  • POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測(cè)厚儀

    美國(guó)DEFELSKO POSITECTOR 200B/A超聲波涂層測(cè)厚儀是直接測(cè)量，無(wú)需校準(zhǔn)即可滿足大部分應(yīng)用的超聲波涂層測(cè)厚儀。

    型號(hào)： 美國(guó)DEFELSK... 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2021/11/19 11:24:02 對(duì)比
    美國(guó)DEFELSKO超聲波涂層測(cè)厚儀涂層檢測(cè)儀微波涂層測(cè)厚儀美國(guó)涂層測(cè)厚儀
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