會議伊始，賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析部門半導(dǎo)體業(yè)務(wù)商業(yè)副總裁朱雪雁女士首先發(fā)表了開場致詞。她表示，賽默飛作為一家擁有40多年歷史的美國企業(yè)，始終秉持著開放、合作的態(tài)度，熱情地面向中國企業(yè)。我們深知中國市場的重要性，并對其充滿信心。正因如此，賽默飛不斷加大在中國的投資力度，致力于更好地服務(wù)本地客戶。今天的活動不僅是提供了一個展示與分享的機會，更是搭建了我們與京東方攜手共創(chuàng)、共同成長的平臺。希望通過更深入的經(jīng)驗交流，為大家?guī)韱l(fā)和收獲。

隨后，京東方開發(fā)領(lǐng)導(dǎo)也表達(dá)了對賽默飛團隊到來的歡迎。他說，多年來，賽默飛憑借先進(jìn)的設(shè)備和優(yōu)秀的技術(shù)支持，為企業(yè)在研發(fā)和生產(chǎn)過程中提供了重要幫助。同時，京東方也希望通過更多的專業(yè)培訓(xùn)，更充分地挖掘設(shè)備的潛力，放大其在生產(chǎn)和研發(fā)中的價值。希望未來京東方與賽默飛能加強溝通與交流，攜手攻克技術(shù)難題，共同探索創(chuàng)新解決方案。

緊隨其后的是各項報告議程。賽默飛PFA高級業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理曹瀟瀟首先帶來報告《助力顯示行業(yè)失效分析與研發(fā)創(chuàng)新——賽默飛PFA解決方案》。報告全面介紹了賽默飛在半導(dǎo)體領(lǐng)域的角色及其全流程解決方案，包括如何通過失效分析（FA）提升良率。展示了在顯示器件分析的應(yīng)用流程及關(guān)鍵產(chǎn)品，如Helios 5 Hydra、Metrios 6等。強調(diào)了TEM自動化、精準(zhǔn)度及工作流優(yōu)化如何幫助客戶解決量測難題。報告全面呈現(xiàn)了賽默飛通過技術(shù)創(chuàng)新，推動更快的數(shù)據(jù)處理、更復(fù)雜的3D結(jié)構(gòu)問題解決以及更高的生產(chǎn)力，以應(yīng)對顯示面板行業(yè)的技術(shù)挑戰(zhàn)。

賽默飛TEM業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理章春陽和PFA業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理楊維新攜手帶來了專業(yè)報告《探索OLED失效之謎——PFA分析技術(shù)與案例研究》。他們的報告聚焦面板行業(yè)在研發(fā)方面遇到的挑戰(zhàn)，對電子顯微學(xué)如何幫助解決面板行業(yè)的研發(fā)熱點問題進(jìn)行了深入探討，并結(jié)合顯示面板行業(yè)常見的失效案例分享，展示賽默飛在物性失效分析的解決方案，如Apreo 2 SEM，Helios 5 系列的Ga+ FIB， PFIB/Hydra和Talos TEM等，詳細(xì)講解了這些設(shè)備如何幫助客戶解決包括在TFT背板、TFE封裝層、OLED有機發(fā)光層、柔性顯示等領(lǐng)域面臨的失效分析問題，幫助推動顯示行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新及良率提升。

最后，賽默飛EFA高級業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀為京東方同仁們分享了《電性失效定位在FPD中的應(yīng)用》。報告中唐經(jīng)理重點介紹了賽默飛的半導(dǎo)體電性失效分析（EFA）設(shè)備在平板顯示（FPD）領(lǐng)域的專業(yè)解決方案和技術(shù)特點。ELITE設(shè)備憑借高靈敏度的鎖相熱成像技術(shù)，可快速精準(zhǔn)定位IC、FPC線路、觸控面板等模塊的電性失效。其InSb相機具備高分辨率、廣視野和快速成像能力，提升故障定位效率和準(zhǔn)確性。Meridian S系統(tǒng)通過EMMI/OBIRCH技術(shù)實現(xiàn)精準(zhǔn)定位樣品漏電位置。納米探針系統(tǒng)nProber IV采用SEM成像平臺，搭載8根納米探針完成最小單元電性表征和失效分析。

賽默飛的綜合EFA解決方案有效提升了FPD領(lǐng)域的故障診斷效率和成功率。