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  • 倒置顯微鏡

    型號:DMi8M/C/A工業(yè)倒置顯微鏡采用的UC-3D照明裝置,實(shí)現(xiàn)更高的對比度,無論是金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子領(lǐng)域,高度模塊化的設(shè)置均能夠滿足不同的需求

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:29:08 對比
  • 體式顯微鏡

    型號:M50、M60和M80輕松檢驗(yàn)、篩選、觀察或記錄

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:27:20 對比
    體式顯微鏡
  • 共聚焦顯微鏡

    型號:LSM900LSM900激光掃描共聚焦顯微鏡是一臺用于材料研究與分析的儀器,可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:25:09 對比
  • 超景深顯微鏡

    VHX-X1系列是一款凝聚了觀察,記錄,測量所有功能的一體化裝置

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:23:31 對比
  • SENresearch4.0寬光譜橢偏儀

    在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500nm(近紅外)

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:21:20 對比
  • Sendira紅外光譜橢偏儀

    SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:19:09 對比
  • PSEL勞厄衍射系統(tǒng)

    該設(shè)備利用背衍射法探測材料的晶體結(jié)構(gòu),常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:17:24 對比
  • 8600系列振動樣品磁強(qiáng)計(jì)

    8600系列VSM采用大量的創(chuàng)新設(shè)計(jì),在降低測量噪聲的同時提高了采樣速度

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:15:15 對比
  • MCS-EMP霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)

    MCS-EMP多用途電磁鐵平臺提供了自動化可變磁場實(shí)驗(yàn)所需的所有基本組件,包括兩種尺寸可選(4英寸/7英寸)的電磁體,兩種尺寸可選(2英寸/4英寸)的磁極帽和磁...

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:13:40 對比
  • 低溫探針臺系列

    低溫探針臺主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測量,可以根據(jù)客戶需要,選擇不同的溫度和磁場配置

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:11:21 對比
  • 聲速測試系統(tǒng)

    根據(jù)樣品成分選擇不同頻率的探頭,來測試不同衰減系數(shù)的樣品

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:08:55 對比
  • UMS高級超聲材料表征系統(tǒng)

    UMS高級超聲材料表征系統(tǒng)采用超聲回波分析法以無損的方式表征各種材料的力學(xué)性能

    型號: 所在地:參考價(jià): 面議更新時間:2024/11/18 13:06:34 對比

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