無損方塊電阻測試儀

公司成立于2021年，是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發(fā)、設計、制造、銷售于一體，主要攻克國外壟斷技術(shù)，替代進口產(chǎn)品，使半導體材料測試設備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品：非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率（霍爾）測試儀、少子壽命測試儀，晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設計經(jīng)驗，申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項，已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商，產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導體廠商的認可，并取得良好的市場口碑。