進(jìn)口半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)探針臺(tái)廣泛用作電動(dòng)分析探針臺(tái)和半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺(tái)平臺(tái)制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤(pán)chuck,體式...
進(jìn)口半自動(dòng)晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試100mm晶圓,性?xún)r(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤(pán)chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,性?xún)r(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤(pán)chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口分析探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型分析探針臺(tái)廣泛用作晶圓探針臺(tái)和RF探針臺(tái),性?xún)r(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤(pán)chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)...
進(jìn)口手動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)探針臺(tái)適合150mm尺寸晶圓測(cè)試,是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)但是具有昂貴探針臺(tái)的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體器件測(cè)試和電路測(cè)試應(yīng)用。
微探針臺(tái)系統(tǒng),micro probe 參考價(jià)：面議
微探針臺(tái)系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺(tái)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測(cè)量功能。
進(jìn)口高溫探針臺(tái),高功率探針tai 參考價(jià)：面議
采用signatone探針臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺(tái)測(cè)試,屬于半自動(dòng)RF/DC/CV測(cè)試高功率探針臺(tái)。
探針臺(tái)操縱器,探針操縱qi 參考價(jià)：面議
探針操縱器Micromanipulator是為探針臺(tái)微操作探針設(shè)計(jì)的探針臺(tái)操縱器,用于各種探針操作定位。
真空變溫探針臺(tái),變溫晶圓測(cè)試 參考價(jià)：面議
這款真空變溫探針臺(tái)是專(zhuān)業(yè)變溫真空晶圓流測(cè)試設(shè)計(jì)的專(zhuān)業(yè)變溫真空探針臺(tái),滿(mǎn)足晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍達(dá)到液氮溫度 -180℃~600℃,特別適合高溫和極低...
光電測(cè)試探針臺(tái),晶圓光電流測(cè)試 參考價(jià)：面議
這款光電測(cè)試探針臺(tái)是專(zhuān)業(yè)為8英寸和12英寸晶圓光電流測(cè)試設(shè)計(jì)的專(zhuān)業(yè)半自動(dòng)變溫光電探針臺(tái),可滿(mǎn)足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍-60~350℃...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)晶圓測(cè)試探針臺(tái)是專(zhuān)業(yè)為晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的專(zhuān)業(yè)手動(dòng)探針臺(tái),可滿(mǎn)足6英寸,8英寸和12英寸晶圓測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍室溫~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓...
自動(dòng)晶圓傳送機(jī) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)晶圓傳送機(jī)是自動(dòng)把FOUP盒晶圓傳送給FOSB盒的設(shè)備。mapped晶片在晶圓盒中緩慢地整體提升；最大限度地減少與晶圓框架盒的接觸，消除顆粒、磨損或晶片邊緣...
批量晶圓ID讀取器 參考價(jià)：面議
批量晶圓ID讀取器WMS讀取waferLot晶圓組的waferID碼?？梢宰x取所有25個(gè)晶片或單個(gè)晶片以進(jìn)行晶片跟蹤。
晶片背襯薄膜涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
晶片背襯薄膜涂布機(jī)UH108是Ultron Systems晶圓Backlapping Film減薄涂膜機(jī),滿(mǎn)足正面保護(hù)膠膜貼膜的應(yīng)用要求,具有高度的可重復(fù)精度,...
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī) 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī)UH204是Ultron Systems紫外線(xiàn)固化機(jī),作為全自動(dòng)UV曝光設(shè)備,具有高效率和成本效益。
晶圓擴(kuò)片機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓擴(kuò)片機(jī) UH132 Die Matrix Expanders是Ultron Systems電機(jī)驅(qū)動(dòng)晶圓die擴(kuò)膜擴(kuò)展器,專(zhuān)業(yè)為晶片擴(kuò)展和die晶粒展示而設(shè)計(jì)...
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng)UH119的非接觸清洗功能主要針對(duì)切割后晶圓應(yīng)用而設(shè)計(jì)，利用可變循環(huán)高壓清洗，實(shí)現(xiàn)高效、快速的晶片清洗。
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī)UH117型是半自動(dòng)晶片清潔系統(tǒng),專(zhuān)業(yè)為為鋸切或劃線(xiàn)后的晶片清潔而設(shè)計(jì)。
光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀是專(zhuān)業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自?dòng)spectroscop...
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池i-v測(cè)試系統(tǒng)是專(zhuān)業(yè)為光伏器件特性測(cè)量設(shè)計(jì)的太陽(yáng)能電池i-v測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量太陽(yáng)能電池的電流-電壓曲線(xiàn)，然后自動(dòng)計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測(cè)量可以隨...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測(cè)量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個(gè)四點(diǎn)探針、源測(cè)量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測(cè)量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀能夠高精度高效率地測(cè)量太陽(yáng)能I-V曲線(xiàn)和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測(cè)量傳統(tǒng)太陽(yáng)能電池和背接觸太陽(yáng)能電池。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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