進(jìn)口晶圓測試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測試200mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口分析探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型分析探針臺(tái)廣泛用作晶圓探針臺(tái)和RF探針臺(tái),性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)...
進(jìn)口手動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)探針臺(tái)適合150mm尺寸晶圓測試,是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)但是具有昂貴探針臺(tái)的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體器件測試和電路測試應(yīng)用。
微探針臺(tái)系統(tǒng),micro probe 參考價(jià)：面議
微探針臺(tái)系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺(tái)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測量功能。
進(jìn)口高溫探針臺(tái),高功率探針tai 參考價(jià)：面議
采用signatone探針臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺(tái)測試,屬于半自動(dòng)RF/DC/CV測試高功率探針臺(tái)。
探針臺(tái)操縱器,探針操縱qi 參考價(jià)：面議
探針操縱器Micromanipulator是為探針臺(tái)微操作探針設(shè)計(jì)的探針臺(tái)操縱器,用于各種探針操作定位。
真空變溫探針臺(tái),變溫晶圓測試 參考價(jià)：面議
這款真空變溫探針臺(tái)是專業(yè)變溫真空晶圓流測試設(shè)計(jì)的專業(yè)變溫真空探針臺(tái),滿足晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍達(dá)到液氮溫度 -180℃~600℃,特別適合高溫和極低...
光電測試探針臺(tái),晶圓光電流測試 參考價(jià)：面議
這款光電測試探針臺(tái)是專業(yè)為8英寸和12英寸晶圓光電流測試設(shè)計(jì)的專業(yè)半自動(dòng)變溫光電探針臺(tái),可滿足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍-60~350℃...
進(jìn)口晶圓測試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)晶圓測試探針臺(tái)是專業(yè)為晶圓測試設(shè)計(jì)的專業(yè)手動(dòng)探針臺(tái),可滿足6英寸,8英寸和12英寸晶圓測試需要,測試溫度范圍室溫~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓...
自動(dòng)晶圓傳送機(jī) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)晶圓傳送機(jī)是自動(dòng)把FOUP盒晶圓傳送給FOSB盒的設(shè)備。mapped晶片在晶圓盒中緩慢地整體提升；最大限度地減少與晶圓框架盒的接觸，消除顆粒、磨損或晶片邊緣...
批量晶圓ID讀取器 參考價(jià)：面議
批量晶圓ID讀取器WMS讀取waferLot晶圓組的waferID碼?？梢宰x取所有25個(gè)晶片或單個(gè)晶片以進(jìn)行晶片跟蹤。
晶片背襯薄膜涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
晶片背襯薄膜涂布機(jī)UH108是Ultron Systems晶圓Backlapping Film減薄涂膜機(jī),滿足正面保護(hù)膠膜貼膜的應(yīng)用要求,具有高度的可重復(fù)精度,...
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī) 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)晶圓曝光機(jī)UH204是Ultron Systems紫外線固化機(jī),作為全自動(dòng)UV曝光設(shè)備,具有高效率和成本效益。
晶圓擴(kuò)片機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓擴(kuò)片機(jī) UH132 Die Matrix Expanders是Ultron Systems電機(jī)驅(qū)動(dòng)晶圓die擴(kuò)膜擴(kuò)展器,專業(yè)為晶片擴(kuò)展和die晶粒展示而設(shè)計(jì)...
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶片清洗系統(tǒng)UH119的非接觸清洗功能主要針對(duì)切割后晶圓應(yīng)用而設(shè)計(jì)，利用可變循環(huán)高壓清洗，實(shí)現(xiàn)高效、快速的晶片清洗。
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī) 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)晶圓清洗機(jī)UH117型是半自動(dòng)晶片清潔系統(tǒng),專業(yè)為為鋸切或劃線后的晶片清潔而設(shè)計(jì)。
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領(lǐng)域的薄膜測量而開的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自?dòng)spectroscop...
太陽能電池i-v測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽能電池i-v測試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測量設(shè)計(jì)的太陽能電池i-v測量系統(tǒng)。測量太陽能電池的電流-電壓曲線，然后自動(dòng)計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測量可以隨...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個(gè)四點(diǎn)探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
太陽能電池I-V測試儀 參考價(jià)：面議
太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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