晶圓少子壽命測量儀 參考價：面議
這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計的少子壽命測試儀器。
單點少子壽命測量儀 參考價：面議
單點少子壽命測量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
晶圓晶錠壽命測定儀 參考價：面議
晶圓晶錠壽命測定儀是為晶圓晶錠測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計的晶圓晶錠少子壽命測試儀器。采用非接觸式檢測和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測試儀 參考價：面議
這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計的溫度決定型少子壽命測定儀器。
光學(xué)鍍膜檢測儀 參考價：面議
光學(xué)鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測設(shè)計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
磁場屏蔽消磁儀 參考價：面議
這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場消除系統(tǒng),磁場補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價：面議
磁場消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計的消磁儀器和磁場補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實驗,磁共振成像MRI,...
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價：面議
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設(shè)計的主動磁場屏蔽和主動消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進(jìn)測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進(jìn)口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。
磁場低溫探針臺 參考價：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測試應(yīng)用。
進(jìn)口無氦低溫探針臺 參考價：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設(shè)計的閉循環(huán)低溫探針臺系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進(jìn)行探針測試。
半自動真空探針臺 參考價：面議
這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對多達(dá)100mm...
磁探針臺 參考價：面議
這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應(yīng)用.作為磁場探針臺實現(xiàn)了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進(jìn)口高溫探針臺 參考價：面議
這款高溫探針臺是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺分析測試而設(shè)計。
閉循環(huán)低溫真空探針臺 參考價：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測試經(jīng)驗和器件。
激光切割修復(fù)探針臺 參考價：面議
激光切割分析探針臺集成分析探針臺和半導(dǎo)體激光修調(diào)trimming系統(tǒng),適合半導(dǎo)體分析切割,失效分析,半導(dǎo)體修調(diào)trimming,結(jié)構(gòu)層移除,標(biāo)記等諸多應(yīng)用。
進(jìn)口半自動探針臺 參考價：面議
這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進(jìn)口半自動晶圓探針臺 參考價：面議
這款半自動晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試100mm晶圓,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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