光學鍍膜檢測儀 參考價：面議
光學鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學鍍膜分析檢測設計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀 參考價：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測試儀 參考價：面議
鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試。
進口光學膜厚儀 參考價：面議
光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n和k...
顯微分光光度計薄膜測厚儀 參考價：面議
顯微分光光度計是多功能顯微薄膜測厚測量儀,結合顯微鏡測量薄膜吸收率,透過率,反射率以及薄膜熒光，通過測量薄膜反射率快速測量薄膜厚度,測量薄膜光學常量(n &k)...
光學傳遞函數(shù)測量儀 參考價：面議
高精度光學傳遞函數(shù)測量儀是六軸電動MTF測試儀器,軟件控制MTF測試分析,滿足有限/有限對象/圖像共軛光學測量應用。
顯微光學傳遞函數(shù)分析儀 參考價：面議
顯微光學傳遞函數(shù)分析儀MTF Micro是為極短焦距的微光學元件設計的光學傳遞函數(shù)測試儀器,它在5個像場點和焦點測量MTF切向和矢狀。
光學鏡頭測量儀 參考價：面議
光學鏡頭測量儀是為光學鏡頭和光學模組分析測試設計的光學鏡頭分析測試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學參數(shù)的測量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
紅外自準直儀 參考價：面議
紅外自準直儀是專門為1550nm波長設計的電子紅外自動準直儀器,具有電子圖像評估功能和1弧秒的精度。
法拉第屏蔽箱 參考價：面議
法拉第屏蔽箱采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效法拉第箱和電磁屏蔽箱，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴重的儀器實驗屏蔽電磁干擾使用,比如...
進口法拉第罩殼 參考價：面議
法拉第罩殼采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效設備，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴重的儀器實驗屏蔽電磁干擾使用。
磁場屏蔽消磁儀 參考價：面議
這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應用。
磁場消除系統(tǒng),磁場補償系統(tǒng) 參考價：面議
磁場消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設計的消磁儀器和磁場補償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實驗,磁共振成像MRI,...
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價：面議
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設計的主動磁場屏蔽和主動消磁裝置系統(tǒng).用于為科學儀器裝置免受磁場干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n...
顯微薄膜測量儀,進口膜厚儀 參考價：面議
這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測...
便攜式薄膜測厚儀 參考價：面議
這款便攜式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設計的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應用。
磁場低溫探針臺 參考價：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術,滿足電磁鐵、超導磁體或電磁鐵和超導磁體的組合測試應用。
進口無氦低溫探針臺 參考價：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設計的閉循環(huán)低溫探針臺系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進行探針測試。
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