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產(chǎn)品
標(biāo)卓 BW/加拿大 FSM HUACE/北京華測(cè) OLYMPUS/奧林巴斯 ROOKO/瑞柯 RENISHAW/英國(guó)雷 同惠電子 ThetaMetrisis TSI/美國(guó) TYCO/美國(guó)泰科 UNICO/尤尼柯 廈門地坤 YIOU 縱橫金鼎 其他品牌
在線詢價(jià)
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPX 2716
非接觸式晶圓厚度測(cè)量?jī)x MX 301-QPX 2849
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)xPX 10166
FIC11BC晶圓電子束密閉檢測(cè)儀PX 4082
HD-2263/ST2263雙電測(cè)四探針檢測(cè)儀PX 3195
BEST-300C自動(dòng)粉體半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀PX 4500
實(shí)惠EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測(cè)燈 PSVLX1-F5016PX 5806
BEST-300C金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀PX 5505
SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀PX 3436
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)PX 6948
襯底電阻率方阻測(cè)試儀PX 1852
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀PX 3390
FLX-2320-R薄膜應(yīng)力測(cè)試儀/日本TOHOPX 1515
YAMADA京都玉崎光學(xué)晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現(xiàn)貨光源HPS-150PX 3537
ET8000型測(cè)量機(jī)PX 1950
KPM AP-D-LeAQUA-PICCOLO手持式皮革水分測(cè)試儀PX 2966
RM3000值得稱贊的的英國(guó)Jandel探針-德國(guó)赫爾納PX 2394
LPA812-3美國(guó) Logosol 晶圓預(yù)對(duì)準(zhǔn)器PX 3800
YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫(kù)銷售PX 3738
CGSR系列膜厚測(cè)量?jī)xPX 1800
A-9531-0237Renishaw雷尼紹測(cè)頭PX 2799
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀PX 3889
TK-1SMALCOM馬康 探針測(cè)試儀PX 5170
臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001PX 6049
國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)PX 6337
RTS-3型手持式四探針測(cè)試儀半導(dǎo)體電阻儀PX 4269
RTS-9型雙電測(cè)四探針鋰電極片電阻測(cè)試儀PX 2788
MKF1-KW2-20036+428德國(guó)福鳥VOGEL測(cè)量?jī)x常規(guī)型號(hào)現(xiàn)貨PX 4567
RM 3000赫爾納供應(yīng)英國(guó)Jandel四探針探頭PX 5579
*YR(40A)直流電阻測(cè)試儀PX 3906
BDST-300C半導(dǎo)材料四探針測(cè)試儀PX 3981
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測(cè)試系統(tǒng)-SPM900PX 5358
GBT17643切口恒載拉伸法土工膜應(yīng)力開裂測(cè)試儀PX 5000
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測(cè)試儀PX 2865
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 3396
Full Deposition PSL Wafer校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征PX 2947
ZS美國(guó)MOUNTZ扭矩測(cè)試儀維修PX 3660
四探針方阻電阻率測(cè)試儀PX 3250
BX-G3487高精度太陽(yáng)膜透過率測(cè)量?jī)xPX 3514
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統(tǒng)PX 2265
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
非接觸式晶圓厚度測(cè)量?jī)x MX 301-Q
晶圓電子束密閉檢測(cè)儀
晶圓光學(xué)除塵儀
自動(dòng)粉體半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測(cè)燈 PSVLX1-F5016
半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)
晶圓測(cè)厚儀 MX203-4-21
晶圓厚度測(cè)量?jī)x MX 102-8
全自動(dòng)非接觸電阻率方阻測(cè)試儀
晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫(kù)銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營(yíng)許可證
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