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WD4000晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)PX 4956
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀PX 2950
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7310
四探針方阻電阻率測試儀PX 2201
LPA12FS-3美國Logosol晶圓預(yù)對準(zhǔn)器PX 2512
HD-2263/ST2263雙電測四探針檢測儀PX 3338
GBT17643聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開裂測試儀PX 7150
晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備PX 5462
Full Deposition PSL Wafer校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征PX 2834
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀PX 9876
YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售PX 1943
襯底電阻率方阻測試儀PX 1922
Luminous NA-8000日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列PX 3917
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400B多功放大器PX 3507
UT528 安規(guī)測試儀PX 1651
INTECS英特斯晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2DPX 3699
芯片X‘ray檢測設(shè)備PX 2667
RTS-9型雙電測四探針鋰電極片電阻測試儀PX 2790
BXA58超高阻雙電四探針測試儀PX 3389
PZ-332C半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備PX 6340
BF1200 361200BAMO電導(dǎo)率探針PX 3690
METREL MI3321多功能安規(guī)測試儀PX 4099
薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)PX 3212
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統(tǒng)PX 2136
HEP-MC8000晶圓檢測機PX 2130
自由曲面三維面型檢測儀PX 1895
BDST-300C半導(dǎo)材料四探針測試儀PX 3585
HC系列日本kita電路板接觸式集成彈簧探針PX 4990
BX-G3487高精度太陽膜透過率測量儀PX 3669
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測量儀PX 4176
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001PX 6099
NH-3SPs高精度點自動對焦3D測量機PX 1456
CC系列CT系統(tǒng)PX 1900
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測量儀PX 2716
TC-SLQZ型氣動和真空探針土壤采樣PX 2413
AX7900晶圓缺陷X-RAY檢測設(shè)備PX 4591
三菱化學(xué)粉體電阻率四探針測試儀MCP-PD51PX 3622
F40Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀PX 3006
RTS-3型手持式四探針測試儀半導(dǎo)體電阻儀PX 4124
fireye離子探針69ND1-1000K4現(xiàn)貨銷售PX 2575
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)
美國Logosol晶圓預(yù)對準(zhǔn)器
Logosol LPA系列嵌入式晶圓預(yù)對準(zhǔn)器
美國Logosol晶圓處理平臺
晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng)
晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng)
晶圓缺陷光學(xué)檢測設(shè)備
日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開裂測試儀
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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